SR20塑料測厚儀薄膜厚度測量儀可測15nm納米
SR20塑料測厚儀薄膜厚度測量儀可測15nm納米

產(chǎn)品特點

測量原理:基于光的干涉原理，通過分析從薄膜表面反射和從薄膜/基底界面反射的光的干涉圖案來計算薄膜厚度。

非接觸測量:不需要與樣品接觸，不會對樣品造成損害，特別適合于測量軟質(zhì)材料或表面易受損的樣品。

高精度:提供非常精確的測量結果，精度可以達到納米級別。

快速測量:測量過程快速，可以即時獲得結果適合生產(chǎn)線上的快速檢測。

易于操作:具有用戶友好的界面，使得操作簡便，用戶可以快速上手。

多層膜測量能力:可以測量多層復合薄膜的每一層的厚度。

數(shù)據(jù)分析:配備強大的數(shù)據(jù)處理和分析軟件，能夠對測量結果進行深入分析。

測量厚度從15nm到100um的膜厚測量系統(tǒng)

不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，SR20都能滿足您的需求。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結果。基于其模塊化設計的特點，SR20適用于各種應用:

測量厚度、折射率、反射率和透過率:

·單層膜或多層膜 ·單一膜層 ·液態(tài)膜或空氣盒厚

使用不同配件條件下的測量，包括:

·平面或彎曲表面

·光斑最小可達20微米

·桌面式、XY坐標自動化膜厚測量，或在線測量

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的電話和互聯(lián)網(wǎng)

支持(24小時/每周5工作日)。

膜層范例基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。這包括幾平所有的電介質(zhì)與半導體材料